狹縫過濾器

1. 水帽的樣式各有什麼優點

各種規格的濾帽適用於各種相配的離子交換柱，活性炭過濾器使用，也可用於快濾池的排水系統，濾頭是濾池底部配水系統汽水反沖冼裝置，它能有效地沖洗出濾池中的污泥雜物，保證濾池水質水量正常運行；濾頭的種類有（長、短柄）磨菇型、梅花型、塔型和圓柱型。均採用ABS工程塑料製成，結構合理，連接牢固，承壓強度高，縫隙不變型，能使濾板間無死水角區，不積泥，效果好，（每小時排水量）0.25噸、0.5噸、1噸。長柄濾頭常用於濾池汽水反沖洗配水系統；短柄濾頭應用於單水反沖洗和重力式，壓力式濾罐及離子交換濾床等水處理設備的過濾裝置。濾頭濾帽用於城市飲用水,工業用水高級凈化,濾頭濾帽是高純水,礦泉水生產中的高級凈化材料,濾頭濾帽有效脫除水中的COD,色素,臭氣毒害物質 。排水帽具有機械強度高，比縫隙面積大，在純水中穩定性好。水帽材質分為ABS跟PP。還可以分為不銹鋼水帽和出水水帽。水帽是一種零件，具有機械強度高，比縫隙面積大，在純水中穩定性好等特點。水帽有各種規格的濾帽適用於各種相配的離子交換柱，活性炭過濾器使用，也可用於快濾池的排水系統， 濾頭是濾池底部配水系統汽水反沖冼裝置，它能有效地沖洗出濾池中的污泥雜物，保證濾池水質水量正常運行。

2. 滾筒洗衣機門鎖不上怎麼辦

1門鎖壞了 2螺絲鬆了 3連接線斷了 4電腦板壞了 最大可能是1和2

3. x射線衍射光路中有哪些狹縫,它們的作用分別是什麼

該過濾器的作用由於狹縫限制衍射對齊觀察員和范圍所觀察到的光瞳的狹縫像的光波的傳播方向，只看到一個准單色光的對象

4. 過濾器要買哪種好

空氣濾清器位於發動機進氣系統中，它是由一個或幾個清潔空氣的過濾器部件組成的總成。其主要作用是濾除將要進入氣缸的空氣中有害雜質，以減少氣缸、活塞、活塞環、氣門及氣門座的早期磨損
濾清器是一個供不應求的行業，其生產能力遠遠跟不上需求量的增長速度。就外資品牌而言，全球市場的繁

榮使得特雷克斯-德馬格、利勃海爾、馬尼托瓦克等生產企業的銷售量增長約40%，但由於濾清器身都是按訂單生產的，與主機配套的零部件也是按訂單出貨，加之受製造商自身產能的影響，供貨周期延長是不可避免的。生產能力的不足和關鍵零部件的短缺困擾著製造商和用戶。那麼在大環境一片大好的前提下，中國濾清器行業又如何呢?
據《2013-2017年中國濾清器製造行業產銷需求與投資預測分析報告》數據顯示從2001年中國加入WTO以來，已經進入到第十個年頭。中國的汽車產業在這十年內獲得了飛速的發展。而與整車發展密不可分的車用濾清器行業同樣也發展的風生水起。我國共出口汽車濾清器達5877.5萬個，比2010年增長13.57%，涉及金額1.27億美元，比2010年增長41.26%。
市場競爭激烈 企業轉戰配套市場
入世以來，中國汽車產業快速發展，拉動了濾清器行業的快速發展。預計，2020年我國車用濾清器市場需求總量將增加到11.6億套。隨著生產企業數量和規模的逐漸擴大，濾清器技術水平也在不斷提高。滿足最新排放標準的濾清器已經研發成功，並實現批量生產。巨大的濾清器市場吸引了眾多生產企業的關注，國內外的企業紛紛加入競爭日益激烈的市場。尤其是售後市場的競爭更趨白熱化。
據前瞻產網分析，原因主要有以下兩點：第一，濾清器屬於易損件，需要定期更換，因此在售後市場的銷量非常大。第二，我國汽車濾清器行業廠家眾多，而且規模普遍較小，品牌的集中度很低，濾清器售後市場的競爭尤為激烈。

廠家品牌編輯

國外知名品牌
博世濾清器 BOSCH博世擁有約1700種濾清器，為歐洲各車廠的各類汽車提供濾清器。
索菲瑪 坐落於青浦工業園區，目前有員工達1300多名，公司主要生產空氣濾清器、機油濾清器、燃油電噴濾清器等產品，是一個集開發、設計、製造和銷售的專業集團公司。
3.馬勒濾清器 馬勒汽車零部件位居全球30強之列。馬勒在全球四大洲有70餘個生產基地和6個研發中心，全球年平均銷售額突破45億美元
4.歐蘭德濾清器 源自歐洲「引擎之都」——義大利.Modena的工藝與品質，產品遍布歐美40多個國家和地區。
5.曼牌濾清器 曼·胡默爾是汽車配件行業, 全世界有41個分支機構9000多名員工.2003年, 公司的年收入達到114億歐元,有四分之三來自汽車及發動機配件的業務.

國內知名品牌
1.新星濾清器、意奔瑪濾清器 是國內國內品種齊全、汽配行業濾清器專家，率先生產濾清器、過濾器、濾芯的生產廠家之一,全球銷售超2億只。
2.豹王 豹王集團於1989年10月在佛山石灣成立，集團廠房佔地近20萬平方米，年產2600多萬只濾清器、2000萬只油封及1500萬條傳動帶，豹王系列產品型號達3000餘種。豹王榮膺2010汽配十佳濾清器民族品牌豹王集團主要引進德國、日本生產設備、檢測設備及優質原材料，嚴格按照ISO-9001/QS-9000/TS-16949國際質量管理標准生產，並獲通過認證；在國內通過國家汽車質量監督檢驗中心及上海內燃機研究所標准檢測

品種類型編輯
發動機有空氣、機油、燃油三種濾清器，一般稱作「三濾」。它們分別擔負發動機進氣系統、潤滑系統和燃燒系統中介質的過濾。
濾清器

空氣類編輯
空氣濾清器的型式有二種，即乾式和濕式。

乾式
是通過一個乾式濾芯，(如紙濾芯)將空氣中的雜質分離出來的濾清器。輕型車(含轎車、微型車)所用的空氣濾清器一般為單級。它的形狀有扁圓或橢圓及平板式。過濾材料為濾紙或非織造布。濾芯端蓋有金屬或聚氨脂的，外殼材料為金屬或塑料。在額定空氣體積流量下，濾芯的原始濾清效率應不低於99.5%。重型車由於工作環境惡劣，它的空氣濾清器必須是多數的。第一級為旋流式預濾器(如葉片環、旋流管等)，用於濾除粗大顆粒雜質，過濾效率在80%以上，第二級細濾是微孔紙濾芯(一般稱作主濾芯)，其過濾效率達99.5%以上。主濾芯之後還有一個安全濾芯，其作用是在安裝和更換主濾芯時，或在主濾芯偶然損壞時防止灰塵進入發動機。安全芯的材料多為非織造布，也有使用濾紙的。

濕式
包括油浸式和油浴式兩種。油浸式是通過一個油浸過的濾芯，將空氣中雜質分離出來，其濾芯材料有金屬絲織物的，也有發泡材料。油浴式是將吸進的含塵空氣導入油池而被除去大部分灰塵，再在帶油霧的空氣向上流經一個由金屬絲繞成的濾芯時作進一步過濾，油滴和被攔住的灰塵一起返回到油池。

注意事項
發電機組空氣濾清器：主要是過濾活塞式發電機組工作時吸入的空氣中的微粒和雜質的一種進氣裝置，由濾芯和殼體兩部分組成。空氣濾清器的主要要求是濾清效率高、流動阻力低、能較長時間連續使用而無需保養。發電機組工作時，如果吸入空氣中含有灰塵等雜質就將加劇零件的磨損，所以必須裝有空氣濾清器。
空氣濾清有慣性式、過濾式和油浴式3種方式：慣性式：由於微粒和雜質的密度較空氣的密度大，當微粒和雜質隨空氣旋轉或急轉彎時，離心慣性力的作用能使雜質從氣流中分離出來。過濾式：引導空氣流過金屬濾網或濾紙等，將微粒和雜質阻擋並粘附在濾芯上。油浴式：在空氣濾清器底部設有機油盤，利用氣流急轉沖擊機油，將微粒和雜質分離並粘滯在機油中，而被激盪起的機油霧滴隨氣流流經濾芯，並粘附在濾芯上。空氣流過濾芯時能進一步吸附雜質，從而達到濾清的目的。
發電機組的空氣濾清器的更換周期：常用發電機組每工作500小時更換一次；備用發電機組工作300小時或6個月更換一次。平時保養發電機組時可以取下來用風槍吹一吹也可延長更換周期200小時或三個月。
對濾清器的過濾要求：要求有正廠生產的濾清器，但不定是大品牌，但絕不能用假冒偽劣的產器。

機油類
機油濾清器位於發動機潤滑系統中。它的上游是機油泵，下游是發動機中需要潤滑的各零部件。其作用是對來自油底殼的機油中有害雜質進行濾除，以潔凈的機油供給曲軸、連桿、凸輪軸、增壓器、活塞環等運動副，起到潤滑、冷卻、清洗作用，從而延長這些零部件的壽命。

種類
離心式機油濾清器有一個轉子套在一支軸上，並有兩個噴射方向相反的噴嘴，當油進入轉子從噴嘴上出來時，轉子便飛快地轉動，使轉子體內的油得到清潔，油中的雜質被離心甩到轉子內壁上，噴嘴出來的油流回到油底殼。離心式機油濾器的特點是性能穩定，沒有需要更換的濾芯，只要定期拆卸轉子，清潔沉積在轉子壁上的污垢又可重新使用。其壽命可與發動機等同。它的不足在於結構復雜，價格較高、笨重等，對使用人員有較高的技術要求。
全流式機油濾清器，如前所述可換式、旋裝式、分流離心式等，對進入系統的全部機油進行過濾。分流式濾清器只過濾機油泵供油量的5%-10%的機油。分流式機油濾清器都是精濾器，它一般與全流式聯用。小功率的發動機大多隻採用全流式濾清器，功率較大的柴油機多採用全流加分流過濾裝置。

缺點
存在兩大缺點，而新產品彌補了缺點，所以有必要使用新產品強磁機油濾清器。
缺點一：濾除機油中60%的雜質，濾清效率低；
這是由於現有的機油濾清器，是依靠單一紙濾芯孔攔截過濾出機油中有害雜質的，其濾紙的微孔越小過濾效果就越好，但機油通過能力就越差。為了解決在同一濾紙微孔上既能濾除最小顆粒的雜質，又能使供給發動機足夠量的機油也能由此微孔通過這一矛盾。經國家內燃機工業協會濾清器分會，市場上最好的機油濾清器，也只能設計到濾除機油中60%雜質的能力，這是經過千百次實驗後得出的最大過濾值。在實際使用中，還有40%的有害雜質，不能被紙濾芯有效濾除，在這40%雜質中，由於鐵磁性雜質相對細小而堅硬，所以以鐵磁性雜質居多，它對發動機損害也就最大。
缺點二：在特殊條件下濾清效率為零；
在紙濾芯的底部都設有旁通閥，這是在設計時，為了考慮到發動機在冷啟動機油粘度大或紙濾芯被部分堵塞或全部堵塞時，保證機油能順利循環回發動機而設計的直接油流通道。當機油在油泵的壓力下打開旁通閥時，此時經旁通閥循環回發動機的機油不但得不到紙濾芯的過濾，而且還會將原有已被紙濾芯過濾出來的大顆粒雜質，經旁通閥重新沖回到發動機中，給發動機帶來不間斷的二次磨損。由上述兩個缺點可見，對大於或小於其紙濾芯微孔的雜質都起不到永久的過濾作用，只能對那些相等於紙濾芯微孔並鑲嵌到紙濾芯微孔中的雜質起到永久的濾除作用，因此濾清效率極低。

濾紙要求
機油濾清器對濾紙的要求比空氣濾清器更高，主要因為機油的溫度變化從0到300度不等，在劇烈的溫度驟變下，機油的濃度也發生相應改變，這會影響到機油的過濾流量。優質機油濾清器的濾紙能夠在劇烈的溫度變化下，過濾雜質，保證足夠流量。

作用
潤滑系統中機油濾清器為了使潤滑系油流暢通無阻，避免雜質刮傷、拉毛零件表面，機油在送到摩擦表面前，必須經過嚴格地濾清。為達到滿意的濾清效果，又不使油路阻力增大，一般把粗濾器與主油道串聯，細濾器與主油道並聯。
1、浮子式機油集濾器，為使機油泵很好地工作，必須把潤滑油中的大顆粒雜質在進入機油泵之前除掉，這個任務由集濾器承擔。它聯接在機油泵進油口，機油泵工作時，機油從罩子與浮子間的狹縫被吸入，通過濾網濾去粗大的雜質後、經焊在浮子上的油管進入機油泵。當濾網被淤塞時，進油管的吸力增大，克服濾網的強力而使壞口離開罩，機油便不經濾網而直接從環口進入吸油管。
2、粗濾器串聯在機油泵和主油道之間，故又稱之為全流式濾清器，用來清除機油中較大的雜質。主要由上蓋、外殼、紙濾芯及旁通閥等組成。當發動機工作時，帶有壓力的潤滑油送入濾芯周圍入濾芯周圍的空腔內，油中較大的雜質被紙濾芯擋住，而干凈的潤滑油進入濾芯的內腔，然後經出油口進入氣缸體的主油道。
3、細濾器：其作用是濾掉潤滑油中更小的雜質，通常與主油道並聯，有離心式和紙板式兩種。
4、離心式細濾器的結構：空心的轉軸固定在外殼上，轉子體及端套連成一體，坐落在止推軸承上，可繞轉子軸自由轉動。壓緊螺母將轉子蓋與轉子體緊固在一起，上面用彈簧壓緊，以限制轉子軸向移動，轉子下面裝有兩個互成反向的噴嘴。發動機運轉時，從機油泵泵出機油的一小部分，經油口進入濾清器。當油壓低於9s千帕時，進油限壓閥關閉，細濾器不起作用。當油壓超過98千帕、限壓閥逐漸開啟，機油經轉子軸中心孔， 自出油孔下噴出。隨後又經油孔進入轉子體，並從兩個噴嘴噴出，於是噴射反作用力即推動轉手旋轉。當油壓升到294千帕時，轉子的轉速可達5000r/min以上，轉子內腔潤滑油中的雜質的比重比潤滑油的大，在旋轉離心力的作用下，被拋向轉子壁，並附蓋在壁上。中心處干凈的潤滑油，從中心進入兩噴嘴，不斷地向外噴射，噴出的潤滑油流回下曲軸箱。

燃油類編輯
其作用是濾除發動機燃油氣系統中的有害顆粒和水份，以保護油泵油嘴、缸套、活塞環等，減少磨損，避免堵塞。 把含在燃油中的氧化鐵濾除。
即使柴油在加入柴油機油箱前經過了沉澱和過濾，是清潔的，但是在加油過程中，由於加油工具、加油環境、油箱口不清潔等因素仍會使柴油污染，而且在柴油機運轉過程中，由於燃油系統中沉積的雜質、空氣中懸浮的沉埃，也會使柴油污染，因此車上的柴油濾清器是必不可少的，何況柴油在加入油箱前並不一定是真正清潔的。

種類
燃油濾清器有柴油濾清器、汽油濾清器和天然氣濾清器三類。
為實現較高分離效率，一級為油水分離器，一級為柴油精濾器。磨損卡死甚至會惡化柴油的燃燒過程。柴油濾清系統的除水方式在機械燃油系統主要是沉澱，到國三以上排放時代，柴油發動機多採用高壓共軌燃油系統，除水方式多採用濾紙。如博世（BOSCH），曼胡（Mann-Hummel），帕克（Parker），國內品牌有達菲特（DIFITE）。
汽油濾清器有化油器式和電噴式之分，使用化油器的汽油發動機，汽油濾清器位於輸油泵進口一側，工作壓力較小，一般採用尼龍外殼，電噴式發動機的汽油濾清器位於輸油泵的出口一側，工作壓力較高，通常採用金屬外殼。汽油濾清器的濾芯多採用濾紙，也有使用尼龍布、高分子材料的。
鐵質（外置）
塑料（油箱內置）

5. 場發射掃描電鏡的定性及定量原理是什麼

電子顯微鏡(簡稱電鏡，EM)經過五十多年的發展已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。我國的電子顯微學也有了長足的進展。電子顯微鏡的創制者魯斯卡(E.Ruska)教授因而獲得了1986年諾貝爾獎的物理獎。
電子與物質相互作用會產生透射電子，彈性散射電子，能量損失電子，二次電子，背反射電子，吸收電子，X射線，俄歇電子，陰極發光和電動力等等。電子顯微鏡就是利用這些信息來對試樣進行形貌觀察、成分分析和結構測定的。電子顯微鏡有很多類型，主要有透射電子顯微鏡(簡稱透射電鏡，TEM)和掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡，SEM)兩大類。掃描透射電子顯微鏡(簡稱掃描透射電鏡，STEM)則兼有兩者的性能。為了進一步表徵儀器的特點，有以加速電壓區分的，如：超高壓(1MV)和中等電壓(200—500kV)透射電鏡、低電壓(～1kV)掃描電鏡；有以電子槍類型區分的，如場發射槍電鏡；有以用途區分的，如高分辨電鏡，分析電鏡、能量選擇電鏡、生物電鏡、環境電鏡、原位電鏡、測長CD-掃描電鏡；有以激發的信息命名的，如電子探針X射線微區分析儀(簡稱電子探針，EPMA)等。
半個多世紀以來電子顯微學的奮斗目標主要是力求觀察更微小的物體結構、更細小的實體、甚至單個原子，並獲得有關試樣的更多的信息，如標征非晶和微晶，成分分布，晶粒形狀和尺寸，晶體的相、晶體的取向、晶界和晶體缺陷等特徵，以便對材料的顯微結構進行綜合分析及標征研究〔3〕。近來，電子顯微鏡(電子顯微學)，包括掃描隧道顯微鏡等，又有了長足的發展。本文僅討論使用廣泛的透射電鏡和掃描電鏡，並就上列幾個方面作一簡要介紹。部分透射電鏡和掃描電鏡的主要性能可參閱文獻。
透射電子顯微鏡
1、高分辨電子顯微學及原子像的觀察
材料的宏觀性能往往與其本身的成分、結構以及晶體缺陷中原子的位置等密切相關。觀察試樣中單個原子像是科學界長期追求的目標。一個原子的直徑約為1千萬分之2—3mm。因此，要分辨出每個原子的位置需要0.1nm左右的分辨本領，並把它放大約1千萬倍。70年代初形成的高分辨電子顯微學(HREM)是在原子尺度上直接觀察分析物質微觀結構的學科。計算機圖像處理的引入使其進一步向超高解析度和定量化方向發展，同時也開辟了一些嶄新的應用領域。例如，英國醫學研究委員會分子生物實驗室的A.Klug博士等發展了一套重構物體三維結構的高分辨圖像處理技術，為分子生物學開拓了一個嶄新的領域。因而獲得了1982年諾貝爾獎的化學獎，以表彰他在發展晶體電子顯微學及核酸—蛋白質復合體的晶體學結構方面的卓越貢獻。
用HREM使單個原子成像的一個嚴重困難是信號／雜訊比太小。電子經過試樣後，對成像有貢獻的彈性散射電子(不損失能量、只改變運動方向)所佔的百分比太低，而非彈性散射電子(既損失能量又改變運動方向)不相干，對成像無貢獻且形成亮的背底(亮場)，因而非周期結構試樣中的單個原子像的反差極小。在檔去了未散射的直透電子的暗場像中，由於提高了反差，才能觀察到其中的重原子，例如鈾和釷—BTCA中的鈾(Z＝92)和釷(Z＝90)原子。對於晶體試樣，原子陣列會加強成像信息。採用超高壓電子顯微鏡和中等加速電壓的高亮度、高相干度的場發射電子槍透射電鏡在特定的離焦條件(Scherzer欠焦)下拍攝的薄晶體高分辨像可以獲得直接與晶體原子結構相對應的結構像。再用圖像處理技術，例如電子晶體學處理方法，已能從一張200kV的JEM-2010F場發射電鏡(點分辨本領0.194nm)拍攝的解析度約0.2nm的照片上獲取超高解析度結構信息，成功地測定出解析度約0.1nm的晶體結構。
2.像差校正電子顯微鏡
電子顯微鏡的分辨本領由於受到電子透鏡球差的限制，人們力圖像光學透鏡那樣來減少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，對於常用的無空間電荷且不隨時間變化的旋轉對稱電子透鏡，球差恆為正值。在40年代由於兼顧電子物鏡的衍射和球差，電子顯微鏡的理論分辨本領約為0.5nm。校正電子透鏡的主要像差是人們長期追求的目標。經過50多年的努力，1990年Rose提出用六極校正器校正透鏡像差得到無像差電子光學系統的方法。最近在CM200ST場發射槍200kV透射電鏡上增加了這種六極校正器，研製成世界上第一台像差校正電子顯微鏡。電鏡的高度僅提高了24cm，而並不影響其它性能。分辨本領由0.24nm提高到0.14nm。在這台像差校正電子顯微鏡上球差系數減少至0.05mm(50μm)時拍攝到了GaAs〈110〉取向的啞鈴狀結構像，點間距為0.14nm。
3、原子尺度電子全息學
Gabor在1948年當時難以校正電子透鏡球差的情況下提出了電子全息的基本原理和方法。論證了如果用電子束製作全息圖，記錄電子波的振幅和位相，然後用光波進行重現，只要光線光學的像差精確地與電子光學的像差相匹配，就能得到無像差的、解析度更高的像。由於那時沒有相乾性很好的電子源，電子全息術的發展相當緩慢。後來，這種光波全息思想應用到激光領域，獲得了極大的成功。Gabor也因此而獲得了諾貝爾物理獎。隨著Mollenstedt靜電雙棱鏡的發明以及點狀燈絲，特別是場發射電子槍的發展，電子全息的理論和實驗研究也有了很大的進展，在電磁場測量和高分辨電子顯微像的重構等方面取得了豐碩的成果〔9〕。Lichte等用電子全息術在CM30
FEG/ST型電子顯微鏡(球差系數Cs＝1.2mm)上以1k×1k的慢掃描CCD相機，獲得了0.13nm的分辨本領。目前，使用剛剛安裝好的CM30
FEG/UT型電子顯微鏡(球差系數Cs＝0.65mm)和2k×2k的CCD相機，已達到0.1nm的信息極限分辨本領。
4、表面的高分辨電子顯微正面成像
如何區分表面和體點陣周期從而得到試樣的表面信息是電子顯微學界一個長期關心的問題。目前表面的高分辨電子顯微正面成像及其圖像處理已得到了長足的進展，成功地揭示了Si〔111〕表面(7×7)重構的細節，不僅看到了掃描隧道顯微鏡STM能夠看到的處於表面第一層的吸附原子(adatoms)，而且看到了頂部三層的所有原子，包括STM目前還難以看到的處於第三層的二聚物(dimers)，說明正面成像法與目前認為最強有力的，在原子水平上直接觀察表面結構的STM相比，也有其獨到之處。李日升等以Cu〔110〕晶膜表面上觀察到了由Cu-O原子鏈的吸附產生的(2×1)重構為例，採用表面的高分辨電子顯微正面成像法，表明對於所有的強周期體系，均存在襯度隨厚度呈周期性變化的現象，對一般厚膜也可進行高分辨表面正面像的觀測。
5、超高壓電子顯微鏡
近年來，超高壓透射電鏡的分辨本領有了進一步的提高。JEOL公司製成1250kV的JEM-ARM
1250／1000型超高壓原子解析度電鏡，點分辨本領已達0.1nm，可以在原子水平上直接觀察厚試樣的三維結構。日立公司於1995年製成一台新的3MV超高壓透射電鏡，分辨本領為0.14nm。超高壓電鏡分辨本領高、對試樣的穿透能力強(1MV時約為100kV的3倍)，但價格昂貴，需要專門建造高大的實驗室，很難推廣。
6、中等電壓電子顯微鏡
中等電壓200kV\,300kV電鏡的穿透能力分別為100kV的1.6和2.2倍，成本較低、效益／投入比高，因而得到了很大的發展。場發射透射電鏡已日益成熟。TEM上常配有鋰漂移硅Si(Li)X射線能譜儀(EDS)，有的還配有電子能量選擇成像譜儀，可以分析試樣的化學成分和結構。原來的高分辨和分析型兩類電鏡也有合並的趨勢：用計算機控制甚至完全通過計算機軟體操作，採用球差系數更小的物鏡和場發射電子槍，既可以獲得高分辨像又可進行納米尺度的微區化學成分和結構分析，發展成多功能高分辨分析電鏡。JEOL的200kV
JEM-2010F和300kV JEM-3000F，日立公司的200kV HF-2000以及荷蘭飛利浦公司的200kV CM200 FEG和300kV CM300 FEG型都屬於這種產品。目前，國際上常規200kVTEM的點分辨本領為0.2nm左右，放大倍數約為50倍—150萬倍。
7、120kV\,100kV分析電子顯微鏡
生物、醫學以及農業、葯物和食品工業等領域往往要求把電鏡和光學顯微鏡得到的信息聯系起來。因此，一種在獲得高分辨像的同時還可以得到大視場高反差的低倍顯微像、操作方便、結構緊湊，裝有EDS的計算機控制分析電鏡也就應運而生。例如，飛利浦公司的CM120
Biotwin電鏡配有冷凍試樣台和EDS，可以觀察分析反差低以及對電子束敏感的生物試樣。日本的JEM-1200電鏡在中、低放大倍數時都具有良好的反差，適用於材料科學和生命科學研究。目前，這種多用途120kV透射電鏡的點分辨本領達0.35nm左右。
8、場發射槍掃描透射電子顯微鏡
場發射掃描透射電鏡STEM是由美國芝加哥大學的A.V.Crewe教授在70年代初期發展起來的。試樣後方的兩個探測器分別逐點接收未散射的透射電子和全部散射電子。彈性和非彈性散射電子信息都隨原子序數而變。環狀探測器接收散射角大的彈性散射電子。重原子的彈性散射電子多，如果入射電子束直徑小於0.5nm，且試樣足夠薄，便可得到單個原子像。實際上STEM也已看到了γ-alumina支持膜上的單個Pt和Rh原子。透射電子通過環狀探測器中心的小孔，由中心探測器接收，再用能量分析器測出其損失的特徵能量，便可進行成分分析。為此，Crewe發展了亮度比一般電子槍高約5個量級的場發射電子槍FEG：曲率半徑僅為100nm左右的鎢單晶針尖在電場強度高達100MV/cm的作用下，在室溫時即可產生場發射電子，把電子束聚焦到0.2—1.0nm而仍有足夠大的亮度。英國VG公司在80年代開始生產這種STEM。最近在VGHB5 FEGSTEM上增加了一個電磁四極—八極球差校正器，球差系數由原來的3.5mm減少到0.1mm以下。進一步排除各種不穩定因素後，可望把100kV STEM的暗場像的分辨本領提高到0.1nm。利用加速電壓為300kV的VG-HB603U型獲得了Cu〈112〉的電子顯微像：0.208nm的基本間距和0.127nm的晶格像。期望物鏡球差系數減少到0.7mm的400kV儀器能達到更高的分辨本領。這種UHV-STEM儀器相當復雜，難以推廣。
9、能量選擇電子顯微鏡
能量選擇電鏡EF-TEM是一個新的發展方向。在一般透射電鏡中，彈性散射電子形成顯微像或衍射花樣；非彈性散射電子則往往被忽略，而近來已用作電子能量損失譜分析。德國Zeiss-Opton公司在80年代末生產的EM902A型生物電鏡，在成像系統中配有電子能量譜儀，選取損失了一定特徵能量的電子來成像。其主要優點是：可觀察0.5μm的厚試樣，對未經染色的生物試樣也能看到高反差的顯微像，還能獲得元素分布像等。目前Leica與Zeiss合並後的LEO公司的EM912 Omega電鏡裝有Ω-電子能量過濾器，可以濾去形成背底的非彈性散射電子和不需要的其它電子，得到具有一定能量的電子信息，進行能量過濾會聚束衍射和成像，清晰地顯示出原來被掩蓋的微弱顯微和衍射電子花樣。該公司在此基礎上又發展了200kV的全自動能量選擇TEM。JEOL公司也發展了帶Ω-電子能量過濾器的JEM2010FEF型電子顯微鏡，點分辨本領為0.19nm，能量解析度在100kV和200kV時分別為2.1μm/eV和1.1μm/eV。日立公司也報道了用EF-1000型γ形電子能量譜成像系統，在TEM中觀察到了半導體動態隨機存取存儲器DRAM中厚0.5μm切片的清晰剖面顯微像。
美國GATAN公司的電子能量選擇成像系統裝在投影鏡後方，可對電子能量損失譜EELS選擇成像。可在幾秒鍾內實現在線的數據讀出、處理、輸出、及時了解圖像的質量，據此自動調節有關參數，完成自動合軸、自動校正像散和自動聚焦等工作。例如，在400kV的JEM-4000EX電鏡上用PEELS得到能量選擇原子像，並同時完成EELS化學分析。
透射電鏡經過了半個多世紀的發展已接近或達到了由透鏡球差和衍射差所決定的0.1—0.2nm的理論分辨本領。人們正在探索進一步消除透鏡的各種像差〔20〕，在電子槍後方再增加一個電子單色器，研究新的像差校正法，進一步提高電磁透鏡和整個儀器的穩定性；採用並進一步發展高亮度電子源場發射電子槍，X射線譜儀和電子能量選擇成像譜儀，慢掃描電荷耦合器件CCD，冷凍低溫和環境試樣室，納米量級的會聚束微衍射，原位實時分析，錐狀掃描晶體學成像(Conical Scan Crystallography)，全數字控制，圖像處理與現代信息傳送技術實現遠距離操作觀察，以及克服試樣本身帶來的各種限制，透射電鏡正面臨著一個新的重大突破。
掃描電子顯微鏡
1、分析掃描電鏡和X射線能譜儀
目前，使用最廣的常規鎢絲陰極掃描電鏡的分辨本領已達3.5nm左右，加速電壓范圍為0.2—30kV。掃描電鏡配備X射線能譜儀EDS後發展成分析掃描電鏡，不僅比X射線波譜儀WDS分析速度快、靈敏度高、也可進行定性和無標樣定量分析。EDS發展十分迅速，已成為儀器的一個重要組成部分，甚至與其融為一體。但是，EDS也存在不足之處，如能量解析度低，一般為129—155eV,以及Si(Li)晶體需在低溫下使用(液氮冷卻)等。X射線波譜儀解析度則高得多，通常為5—10eV，且可在室溫下工作。1972年起EDAX公司發展了一種ECON系列無窗口探測器，可滿足分析超輕元素時的一些特殊需求，但Si(Li)晶體易受污染。1987年Kevex公司開發了能承受一個大氣壓力差的ATW超薄窗，避免了上述缺點，可以探測到B，C，N，O等超輕元素，為大量應用創造了條件。目前，美國Kevex公司的Quantifier,Noran公司的Extreme,Link公司的Ultracool,EDAX公司的Sapphire等Si(Li)探測器都屬於這種單窗口超輕元素探測器，解析度為129eV，133eV等，探測范圍擴展到了5B—92U。為克服傳統Si(Li)探測器需使用液氮冷卻帶來的不便，1989年Kevex公司推出了可不用液氮的Superdry探測器，Noran公司也生產了用溫差電製冷的Freedom探測器(配有小型冷卻循環水機)，和壓縮機製冷的Cryocooled探測器。這兩種探測器必須晝夜24小時通電，適合於無液氮供應的單位。現在使用的大多還是改進的液氮冷卻Si(Li)探測器，只需在實際工作時加入液氮冷卻，平時不必維持液氮的供給。最近發展起來的高純鍺Ge探測器，不僅提高了解析度，而且擴大了探測的能量范圍(從25keV擴展到100keV)，特別適用於透射電鏡：如Link的GEM型的解析度已優於115eV(MnKα)和65eV(FKα)，Noran的Explorer
Ge探測器，探測范圍可達100keV等。1995年中國科學院上海原子核研究所研製成了Si(Li)探測器，能量解析度為152eV。中國科學院北京科學儀器研製中心也生產了X射線能譜分析系統Finder-1000，硬體借鑒Noran公司的功能電路，配以該公司的探測器，採用Windows操作系統，開發了自己的圖形化能譜分析系統程序。
2、X射線波譜儀和電子探針儀
現代SEM大多配置了EDS探測器以進行成分分析。當需低含量、精確定量以及超輕元素分析時，則可再增加1到4道X射線波譜儀WDS。Microspec公司的全聚焦WDX-400，WDX-600型分別配有4塊和6塊不同的衍射晶體，能檢測到5B(4Be)以上的各種元素。該譜儀可以傾斜方式裝在掃描電鏡試樣室上，以便對水平放置的試樣進行分析，而不必如垂直譜儀那樣需用光學顯微鏡來精確調整試樣離物鏡的工作距離。
為滿足大量多元素試樣的超輕元素，低含量，高速定性、定量常規分析的需求，法國Cameca公司長期生產電子探針儀，SX50和SXmacro型配備4道WDS及1道EDS，物鏡內裝有同軸光學顯微鏡可以隨時觀察分析區域。島津公司最近生產的計算機控制EPMA-1600型電子探針，可配置2—5道WDS和1道EDS，試樣最大尺寸為100mm×100mm×50mm(厚)，二次電子圖像解析度為6nm。JEOL公司也生產了計算機控制的JXA-8800電子探針和JXA-8900系列WD／ED綜合顯微分析系統—超電子探針，可裝5道X射線光譜儀和1道X射線能譜儀，元素分析范圍為5B—92U，二次電子圖像解析度為6nm。
Noran公司下屬的Peak公司最近發展了一種嶄新的APeX全參數X射線光譜儀，與傳統的機械聯動機構完全不同，由計算機控制6個獨立的伺服馬達分別調節分光晶體的位置和傾角以及X射線探測器的X、Y坐標和狹縫寬度。配有4塊標準的分光晶體可分析5B(4Be)以上的元素。羅蘭圓半徑隨分析元素而變，可分別為170，180，190和200mm，以獲得最高的計數率，提高了分析精度和靈活性。Noran公司還推出了稱為MAXray的X射線平行束光譜儀，將最新的X光學研究成果——准平行束整體X光透鏡置於試樣上的X射線發射點和分析晶體之間，提高了接收X射線的立體角，比一般WDS的強度提高了50倍左右。可分析100eV—1.8keV能量范圍內的K、L、M線，特別有利於低電壓、低束流分析，對Be、B、C、N、O和F的解析度可高達5—15eV，兼有WDS的高解析度和EDS的高收集效率。這兩種新型X射線光譜儀可望得到廣泛的應用。
3、場發射槍掃描電鏡和低壓掃描電鏡
場發射掃描電鏡得到了很大的發展〔24〕。日立公司推出了冷場發射槍掃描電鏡，Amray公司則生產熱場發射槍掃描電鏡，不僅提高了常規加速電壓時的分辨本領，還顯著改善了低壓性能。低壓掃描電鏡LVSEM由於可以提高成像的反差，減少甚至消除試樣的充放電現象並減少輻照損傷，因此受到了人們的囑目。JEOL公司的JSM-6000F型場發射超高分辨SEM的分辨本領在加速電壓30kV時達0.6nm，已接近TEM的水平，但試樣必須浸沒入物鏡的強磁場中以減少球差的影響，所以尺寸受到限制，最大為23mm×6mm×3mm(厚)。試樣半浸沒在物鏡磁場中的場發射JSM-6340F型可以觀察大試樣，加速電壓15kV時分辨本領為1.2nm，低壓1kV時為2.5nm。這兩種SEM由於試樣要處在磁場中所以不能觀察磁性材料。使用CF校正場小型物鏡可觀察大試樣的場發射JSM-6600F型分辨本領為2.5nm(1kV時為8nm)。日立公司也供應這幾類產品如S-5000，S-4500和S-4700型。
4、超大試樣室掃描電鏡
德國Visitec捷高公司的超大試樣室Mira型掃描電鏡。被檢物的最大尺寸可為直徑700mm，高600mm，長1400mm，最大重量可達300公斤，真空室長1400，寬1100和高1200mm。分辨本領4nm，加速電壓0.3kV—20kV。是一種新的計算機控制、非破壞性的檢查分析測試裝置，可用於工業產品的生產，質量管理，微機加工和工藝品的檢查研究等。
5、環境掃描電鏡
80年代出現的環境掃描電鏡ESEM，根據需要試樣可處於壓力為1—2600Pa不同氣氛的高氣壓低真空環境中，開辟了新的應用領域。與試樣室內為10-3Pa的常規高真空SEM不同，所以也可稱為低真空掃描電鏡LV-SEM。在這種低真空環境中，絕緣試樣即使在高加速電壓下也不會因出現充、放電現象而無法觀察；潮濕的試樣則可保持其原來的含水自然狀態而不產生形變。因此，ESEM可直接觀察塑料、陶瓷、紙張、岩石、泥土，以及疏鬆而會排放氣體的材料和含水的生物試樣，無需先噴塗導電層或冷凍乾燥處理。1990年美國Electro
Scan公司首先推出了商品ESEM。為了保證試樣室內的高氣壓低真空環境，LV-SEM的真空系統須予以特殊考慮。目前，Amray,Hitachi,JEOL和LEO等公司都有這種產品。試樣室為6—270Pa時，JSM—5600LV—SEM的分辨本領已達5.0nm，自動切換到高真空狀態後便如常規掃描電鏡一樣，分辨本領達3.5nm。中國科學院北京科學儀器研製中心與化工冶金研究所合作，發展KYKY-1500高溫環境掃描電子顯微鏡，試樣最高溫度可達1200℃，最高氣壓為2600Pa；800℃時解析度為60nm，觀察了室溫下的濕玉米澱粉顆粒斷面、食鹽的結晶粒子，以及在50Pa，900℃時鐵礦中的針形Fe\-2O\-3等試樣。
6、掃描電聲顯微鏡
80年代初問世的掃描電聲顯微鏡SEAM，採用了一種新的成像方式：其強度受頻閃調制的電子束在試樣表面掃描，用壓電感測器接收試樣熱、彈性微觀性質變化的電聲信號，經視頻放大後成像。能對試樣的亞表面實現非破壞性的剖面成像。可應用於半導體、金屬和陶瓷材料，電子器件及生物學等領域。中國科學院北京科學儀器研製中心也發展了這種掃描電聲顯微鏡，空間分辨本領為0.2—0.3μm。最近，中國科學院上海硅酸鹽研究所採用數字掃描發生器控制電子束掃描等技術，提高了信噪比，使SEAM的圖像質量得到了很大的改進。
7、測長／缺陷檢測掃描電鏡
SEM不但在科學研究而且在工農業生產中得到了廣泛的應用，特別是電子計算機產業的興起使其得到了很大的發展。目前半導體超大規模集成電路每條線的製造寬度正由0.25μm向0.18μm邁進。作為半導體集成電路生產線上Si片的常規檢測工具，美國Amray公司推出了一種缺陷檢測3800型DRT掃描電鏡，採用了加熱到1800K的ZrO/W陰極肖脫基熱場發射電子槍，具有良好的低加速電壓性能：1kV時分辨本領達4nm，而且電子束流的穩定度優於1%/h、可長期連續工作，對直徑為100，125，150，200mm的Si片，每小時可檢測100個缺陷。日立公司為了克服以往在室溫下工作的冷場發射槍測長掃描電鏡(CD-SEM)因需要進行閃爍處理以去除發射尖上所吸附的氣體分子而經常中斷工作、影響在生產線上應用的缺點，最近也推出了這種ZrO/W陰極熱場發射電子槍的S-8000系列CD-SEM。為了克服熱場發射比冷場發射槍電子能量分散大的缺點，設計了阻滯場電磁物鏡，並改進了二次電子探測器，在加速電壓為800V時分辨本領為5nm，可以每小時20片，每片5個檢測點的速度連續檢測125—200mm直徑的Si〔1,28〕。
8、晶體學取向成像掃描電子顯微術
SEM的另一個新發展方向是以背散射電子衍射圖樣(EBSP)為基礎的晶體學取向成像電子顯微術(OIM)。在SEM上增加一個可將試樣傾動約70度的裝置，CCD探測器和數據處理計算機系統，掃描並接收記錄塊狀試樣表面的背散射電子衍射花樣(背散射菊池花樣)，按試樣各部分不同的晶體取向分類成像來獲得有關晶體結構的信息，可顯示晶粒組織、晶界和裂紋等，也可用於測定織構和晶體取向。可望發展成SEM的一個標准附件。1996年美國TSL(TexSemLaboratories,Inc.)公司推出了TSL
OIM系統，空間分辨本領已優於0.2μm，比原理相似的電子通道圖樣(ECP)提高了一個量級，在0.4秒鍾內即能完成一張衍射圖樣的自動定標工作。英國牛津集團顯微分析儀器Link-OPAL公司的EBSD結晶學分析系統，目前已用於Si片上Al連線的取向分析，以判斷其質量的優劣及可行性。
9、計算機控制掃描電鏡
90年代初，飛利浦公司推出了XL系列掃描電鏡。在保持重要功能的同時，減少了操作的復雜性。儀器完全由計算機軟體控制操作。許多參量(焦距、像散校正和試樣台移動速度等)和調節靈敏度都會根據顯微鏡的工作狀態作自適應變化和耦合，可迅速而准確地改變電鏡的主要參數。EDS完全與XL系統實現了一體化。該公司1995年生產了XL40
FEG等場發射掃描電鏡。日立，JEOL等也先後推出了計算機控制的掃描電鏡。
場發射掃描電鏡的分辨本領最高已達到0.6nm，接近了透射電鏡的水平，並得到了廣泛的應用，但尚不能分辨原子。如何進一步提高掃描電鏡的圖像質量和分辨本領是人們十分關注的問題。Joy DC指出：由於分辨本領受到試樣表面二次電子SE擴散區大小的基本限制，採取適當措施如噴鍍一超薄金屬層或布洛赫波隧穿效應(Bloch Wave Channeling)等來限制SE擴散區的尺寸，二次電子分辨本領可望達到0.2—0.3nm，並進而觀察原子像。現代SEM電子束探針的半高寬FWHM已達0.3nm，場發射電子槍也已具有足夠高的亮度。因此在電子光學方面目前並不構成對SE分辨本領的基本限制。然而，對SEM的機械設計如試樣台的漂移和震動等尚未給予足夠的、如對掃描隧道顯微鏡那樣的重視、二次電子探測器的信噪比和反差還不夠理想，也影響了分辨本領。此外，SE分辨本領的定義和測定方法，SEM圖像處理等也不如透射電子顯微鏡那麼嚴格和完善。這些問題的解決必將進一步提高SEM的圖像質量和分辨本領。
參考文獻
〔1〕 金鶴鳴，姜新力，姚駿恩.中國電子顯微分析儀器市場.見：分析儀器市場調查與分析.北京：海洋出版社，1998.第四章.p113—152.(待出版).
〔2〕 姚駿恩.創造探索微觀世界的有力工具(今年諾貝爾獎物理學獎獲得者的貢獻).中國科技報，1986-12-08(3).
〔3〕 姚駿恩.電子顯微鏡的最近進展.電子顯微學報，1982，1(1)∶1—9.
〔4〕 郭可信.晶體電子顯微學與諾貝爾獎.電子顯微學報，1983，2(2)∶1—5

6. 兩個注油器，採用並聯方式，一個到主油泵入口，0.15MPa，一個到潤滑油系統，0.11MPa。為什麼

注油器有工作壓力和出口壓力，工作壓力是開啟壓力，出口壓力是輸出壓力。而高版低壓注油器參考值是權出口壓力（既輸出壓力）。你所說情況，可能是前者輸出壓力較後者低，0.15MPA是開啟壓力，0.11MPA是輸出壓力，兩者沒有可比性。

7. 海爾洗衣機烘乾功能怎麼完了打不開門

斷電後再檢查一下是否可以開門。另外機器有應急開門拉桿（在機器右下角過濾器門內）可以打開門。
1，滾筒式洗衣機門打不開時，最好關閉總電源，稍後再嘗試打開即可。
2，保持斷電，用手敲擊門蓋把手部位，依靠震動使塑料銷復位，就可以打開門了。
3，如果洗衣機開關旋鈕已經擰到停止檔位後，很長時間門還是打不開門，可以將旋鈕再次擰到任意一個檔位，數秒之後會聽到門鎖「啪」的聲響，此時就可以將門打開了。
4，有些故障類似於電腦的死機，只要關閉電源，稍後讓其電路中的余電（電容）放光，再插上電源，就能讓電路復位到默認值。
5，以上努力都無效，那就要手動打開洗衣機的門了，一般滾筒洗衣機的右下方都有一個隱蔽的應急維修門，使用螺絲刀插進去門上延的狹縫中，輕輕地往外撬，就能打開應急維修門。

8. 英語翻譯 急求.

一個典型的設立青年的雙縫實驗。
之間的距離，雙縫到屏幕上是3.0米。狹縫分離是0.2毫米，波長入射光是633納米。

（一）確定角位移的三階極小。
（二）確定邊緣寬度的干涉條紋，觀察對
屏幕。
（三）估計理論的最大數目光明的邊緣，能觀察到。
（四）如果寬度的狹縫被假定為無限小和Y是距離，從中央極大值在屏幕上，畫一個清晰標識的圖形顯示的變化強度的條紋與耀強度，海浪從每個狹縫是i0 。表達強度的條款i0 。
（五）狹縫S1的是，現在所涵蓋的同一個過濾器，例如說，根據新出現的從S1是減少了一半振幅。素描就同一圖的一部分， （四） ，新的格局強度，你會期望觀察。標簽您的圖形清楚

9. 偏振控制器

自然光是完全非偏振光，自然光通過起偏器後可以的到線偏振光，那麼，這里的線偏振光一般來說是不相乾的, 不過要看你入射的光是否相干，自然光一般不相干，因為它們各個方向的光它們的相位是隨機的，是非相干光，就算通過起偏器後各方向的振動分量在這個透光方向投影透過一部分，它的相位也是不相乾的